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        ict上IC的測試

        日期:2021-09-24 13:01
        瀏覽次數:3703
        摘要:

        ICT上IC的測試:
        1
        開短路測試法

          測試IC各腳的開短路來測試我出不佳

        2,保護二極體測試法

          每個IC都對地和電源有一個反向二極體,通過測試此反向二極體來測試IC的缺件,空焊,反插等不佳現像

        3,HP TESTJET量測法(ivetp)

        HP TestJetTechnology 是量測感測應器與IC 腳框之間的電容量來偵測IC 接腳的空焊。

        1) 由于采用ReedRelay ScannerBoard,Guarding 能力強,因此測試效果好。

         

        2) 由于干擾處理能力強,因此對SMD

            Type Connector的量測相當可靠

        3) 其對IC的可測率達到95%以上

        4 ISSCAN功能測試

         此技術是我公司磚利技術,測試并聊IC的開短.

        5功能測試還支持

         1)穩壓管的穩壓值測試

         2)LED的測試

         3)電機馬達的測試
        ict上IC的測試

        粵公網安備 44030602001522號

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