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        JATG定義及可測試功能

        日期:2021-09-26 22:59
        瀏覽次數:2430
        摘要:
        JATG定義及可測試功能
        JTAG(Joint Test Action Group;聯合測試工作組)是一種國際標準測試協議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內部測試?,F在多數的上等器件都支持JTAG協議,如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。
        JTAG接口形式及定義:
        有三種接品方式: 14針JTAG接口 , 20針JTAG接口 ,10針JTAG接口

        14針JTAG接口

        1 、 13   VCC 接電源
        2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14   GND 接地
        3  nTRST  測試系統復位信號
        5  TDI   測試數據串行輸入
        7  TMS  測試模式選擇
        9  TCK  測試時鐘
        11 TDO   測試數據串行輸出
        12 NC   未連接

        20針JTAG接口

        1 VTref   目標板參考電壓,接電源
        2 VCC   接電源
        3 nTRST   測試系統復位信號
        4、6、8、10、12、14、16、18、20  GND 接地
        5 TDI   測試數據串行輸入
        7 TMS   測試模式選擇
        9 TCK   測試時鐘
        11 RTCK  測試時鐘返回信號
        13 TDO   測試數據串行輸出
        15 nRESET   目標系統復位信號
        17 、 19 NC  未連接

        10針JTAG接口

        仿真器端口 AVR端口 備1. TCK TCK
        2. NC NC
        3. TDO TDO
        4. Vtref VCC
        5. TMS TMS
        6. nSRST RESET
        7. NC / Vsupply NC / VCC JTAG ICE仿真器:VCC;JTAG ICE mkII仿真器:NC
        8. nTRST NC ATMEL尚且保留該端口,如今暫不使用它,未來可能會使用
        9. TDI TDI
        10.GND GND
        JTAG接口定義:
        具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引腳定義:
        TCK——測試時鐘輸入;
        TDI——測試數據輸入,數據通過TDI輸入JTAG口;
        TDO——測試數據輸出,數據通過TDO從JTAG口輸出;
        TMS——測試模式選擇,TMS用來設置JTAG口處于某種特定的測試模式。
        可選引腳TRST——測試復位,輸入引腳,低電平有效。
        含有JTAG口的芯片種類較多,如CPU、DSP、CPLD等。
        JTAG內部有一個狀態機,稱為TAP控制器。TAP控制器的狀態機通過TCK和TMS進行狀態的改變,實現數據和指令的輸入。
        JTAG接口的功能:
        1,邊界掃描測試,
             BSDL驗證
            測試程序調試
            硬件調試
            可測試性優化
            故障可測率提升
        2,基礎結構測試
            連接測試
            i / o連接測試
           邊界掃描/飛針測試
           內存訪問
           集群邏輯測試
           i / o測試組件
           模擬I / o測試
           開短路測試 
           燒錄自檢 
          FPGA-assisted RAM訪問測試
          FPGA-assisted比特誤碼率測試(BERT)
        3,功能模擬測試
          內部芯片測試
          集群測試
          基板輸出輸出測試
         Core-assisted RAM訪問測試
        Core-assisted系統總線測試
        core-assisted i / o測試
        4,IC編程/燒錄
          CPLD/ FPGA編程
          邊界掃描flash編程
          微控制編程
        芯片核心flash編程
        FPGA flash編程

         

         
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